Se realizan las V Jornadas Interdisciplinarias de Análisis Avanzado de Imágenes y Señales
Se organizan en conjunto entre la UTN Buenos Aires, el Departamento de Ingeniería Informática del Instituto Tecnológico de Buenos Aires (ITBA) y el Instituto de Desarrollo Humano de la Universidad Nacional de General Sarmiento (UNGS)
Entre el 6 y 7 de mayo se realizan las V Jornadas Interdisciplinares de Análisis Avanzado de Imágenes y Señales (JIAAIS), organizadas en conjunto por la UTN Buenos Aires, el Departamento de Ingeniería Informática del Instituto Tecnológico de Buenos Aires (ITBA) y el Instituto de Desarrollo Humano de la Universidad Nacional de General Sarmiento (UNGS).
El objetivo del evento es compartir un espacio de intercambio entre los interesados en el campo del procesamiento de imágenes, procesamiento de señales y visión por computadora, con la intención de debatir nuevas ideas, técnicas y experiencias.Durante el día de hoy, el encuentro se realiza en la Universidad Nacional de General Sarmiento, mientras que las actividades de mañana, 7 de mayo, se desarrollarán en la sede de la Escuela de Posgrado de la UTNBA, ubicada en Castro Barros 91, de 9 a 17 hs.
Los trabajos que se expondrán corresponden a diferentes disciplinas, entre los que se incluyen presentaciones con aplicaciones en estadística, imágenes SAR, imágenes médicas y procesamiento de señales, entre otros tópicos de interés.
Cronograma de actividades
6 de mayo, Universidad Nacional de General Sarmiento, Módulo 1, Aula 103.
9:20 Teoría de información estadística y geometría de información estadística para el análisis de imágenes SAR, Dr. Alejandro C. Frery, Universidad Federal de Alagoas.
10:00 Modelo de errores en líneas de transmisión por fibra óptica, Dr. Diego Rial, Universidad de Buenos Aires.
10:40 Coffee break
11:00 Implementación de los clasificadores SVM y RDA con distintas configuraciones para sus parámetros, en Imágenes Satelitales, Dra. Susana Ferraro, Universidad Nacional de Río Cuarto.
11:40 Aprendizaje no supervisado para mantenimiento predictivo de equipos. Detección de Anomalías en un sistema de bombas utilizando Autoencoders. Adaglio, Paula; Dennehy, Mateo; Etcheberry Mason, Juan Ignacio
12:20 Almuerzo
14:00
Preferencia en frecuencia en circuitos de señalización simples, Dra. Rocío Balderrama, Universidad de Buenos Aires.
14:40 Influencia de la resolución espacial en el contenido de información de imágenes Polsar, Magister Gabriela Palacio, Universidad Nacional de Río Cuarto.
15:20 Coffee break
15:40 Procesamiento de señales de EEG mediante histogramas de gradientes multicanal, Dr. Rodrigo Ramele, Instituto Tecnológico de Buenos Aires.
16:20 Estimación de la producción de sedimentos aplicando el modelo MUSLE en la Aldea Santa María, Entre Ríos, Ing.Roxana Ramirez, Universidad Tecnológica Nacional, Facultad Regional Paraná.
7 de mayo, Entrepiso, Escuela de postgrado, Universidad Tecnológica Nacional
9.20 Interferometría diferencial SAR: casos de aplicación, Dr. Leonardo Euillades, CONICET
10:00 SketchZooms: Deep multi-view semantics-aware descriptors for line drawings, Dr. Emmanuel Iarussi,CONICET – UTN.
10:40 Coffee break
11:00 FPM: Obteniendo resolución y campo visual en microscopía, Juan Bujjamer y Hernán E. Grecco, Departamento de Física, Facultad de Ciencias Exactas y Naturales, Universidad de Buenos Aires – Instituto de Física de Buenos Aires, CONICET.
11:40 Estimación del tiempo de penetración del Topotecan en cultivos celulares, Ing. Marcelo Howling, Universidad Tecnológica Nacional Facultad Regional Buenos Aires.
12:20 Almuerzo
14:00Detección y clasificación del movimiento de la nubosidad por tratamiento de imágenes en cámaras de observación de cielo, Pallotta J. V, Wolfram E. A. Orte P. F., Bali L., D’Elia R. L.
14:40 Versatile Detector of Pseudo Periodic Patterns
Augusto Santini, Mariano Llamedo, Emiliano Diez, UTN-Universidad Nacional de Cuyo.
15:20 Coffee break
15:40 Aplicaciones de deep learning en problemas de visión computacional, Dr. Claudio Delrieux, Universidad Nacional de Sur.
16:20 A lead selection strategy based on an estimated detection quality index, Mariano Llamedo, Departamento de Electrónica, Regional Buenos Aires, Universidad Tecnológica Nacional, Argentina. Juan Pablo Martínez, BSICoS Group, Aragon Institute of Engineering Research, España.
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